低溫沖擊試驗(yàn)裝置設(shè)備概述:
本裝置符合GB/T2099.1-2021標(biāo)準(zhǔn)中第第24.5條款及30.5條款要求(圖27及圖42)、IEC60884-1:2013試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求;單組式適用于對(duì)插頭、插座、開(kāi)關(guān)、等進(jìn)行低溫沖擊試驗(yàn)。
低溫沖擊試驗(yàn)裝置主要技術(shù)參數(shù):
本低溫沖擊設(shè)備應(yīng)與低溫箱配套使用,設(shè)備應(yīng)放在約40mm厚的海綿橡皮墊上,試驗(yàn)前和試驗(yàn)期間均應(yīng)置于合適的低溫箱內(nèi)
跌落沖擊高度:10~250mm可調(diào)
低溫沖擊試樣類(lèi)型、落錘質(zhì)量及跌落高度:
1)插座盒及類(lèi)似電器外殼 GB/T2099.1-2021第24.5條款,滿(mǎn)足圖27規(guī)格要求,落錘質(zhì)量:1000±2g,跌落沖擊高度:100mm;
2)帶絕緣護(hù)套的插銷(xiāo) GB/T2099.1-2021第30.5條款,滿(mǎn)足圖42規(guī)格要求落錘質(zhì)量:1000±1g,跌落沖擊高度:100mm。
符合GB/T2099.1-2021標(biāo)準(zhǔn)中第第24.5條款及30.5條款要求(圖27及圖42)、IEC60884-1:2013試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求
設(shè)備概述:
本裝置符合GB/T2099.1-2021標(biāo)準(zhǔn)中第第24.5條款及30.5條款要求(圖27及圖42)、IEC60884-1:2013試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求;單組式適用于對(duì)插頭、插座、開(kāi)關(guān)、等進(jìn)行低溫沖擊試驗(yàn)。
主要技術(shù)參數(shù):
本低溫沖擊設(shè)備應(yīng)與低溫箱配套使用,設(shè)備應(yīng)放在約40mm厚的海綿橡皮墊上,試驗(yàn)前和試驗(yàn)期間均應(yīng)置于合適的低溫箱內(nèi)
跌落沖擊高度:10~250mm可調(diào)
低溫沖擊試樣類(lèi)型、落錘質(zhì)量及跌落高度:
1)插座盒及類(lèi)似電器外殼 GB/T2099.1-2021第24.5條款,滿(mǎn)足圖27規(guī)格要求,落錘質(zhì)量:1000±2g,跌落沖擊高度:100mm;
2)帶絕緣護(hù)套的插銷(xiāo) GB/T2099.1-2021第30.5條款,滿(mǎn)足圖42規(guī)格要求落錘質(zhì)量:1000±1g,跌落沖擊高度:100mm。
符合GB/T2099.1-2021標(biāo)準(zhǔn)中第第24.5條款及30.5條款要求(圖27及圖42)、IEC60884-1:2013試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求