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型號:
產品時間:2023-11-22
簡要描述:
低對比度細節(jié)檢測模體TO16/TO20低對比度細節(jié)模體用于快速定量檢測影像成像質量,可以用于X射線放射影像系統(tǒng),CR系統(tǒng)(TO16);透視和血管造影xi統(tǒng)(TO20)。
低對比度細節(jié)檢測模體TO16/TO20
產品簡介
低對比度細節(jié)檢測模體TO16/TO20
低對比度細節(jié)檢測模體 英國Leeds / TO16 / TO20
1.低對比度細節(jié)模體用于快速定量檢測影像成像質量,可以用于X射線放射影像系統(tǒng),CR系統(tǒng)(TO16);透視和血管造影xi統(tǒng)(TO20)。
2.直徑250mm,厚度10mm;圓板中有12組不同細節(jié)點,每組中有12個不同直徑的細節(jié)點。144個細節(jié)點的對比度范圍從0.0014到0.924(在75kV和1.5mm銅濾過的條件下)。
TO16低對比度細節(jié)檢測模體特點:
1、低對比度細節(jié)模體用于快速定量檢測影像成像質量,可以用于X射線放射影像系統(tǒng)和CR系統(tǒng);
2、這些測試對象旨在快速定量圖像質量。 結果可以繪制在閾值檢測指數(shù)曲線上。
TO16低對比度細節(jié)檢測模體符合新WS標準
TO16低對比度細節(jié)檢測模體技術參數(shù):
直徑250mm,厚度10mm
圓板中有12組不同細節(jié)點,每組中有12個不同直徑的細節(jié)點,直徑從0.25m到11mm
144個細節(jié)點的對比度范圍從0.0014到0.924(在75kV和1.5mm銅濾過的條下)
144個細節(jié)(12×12對比細節(jié))
尺寸范圍11mm至0.25mm
對比度范圍0.0014至0.924 (在75kV,1.5mm Cu過濾條件下)
TO系列對比度細節(jié)模體專為圖像質量的快速定量評估而設計。評估結果可以繪制在閾值探測指標曲線上。TO 16型對比度細節(jié)模體應用于計算機數(shù)字X線攝影系統(tǒng)上。每個細節(jié)規(guī)格上分布有12個對比度檢測圖樣。
Leeds TO16模體是厚10mm, 直徑250mm的圓板,可顯示包括144個圓形可探測細節(jié),分12組,每組包含不同細節(jié)直徑,同一直徑對應12個對比度,不同射線能量由不同對比度。
144組可探測細節(jié)(12組*12個對比度)
直徑范圍:11.1mm 至 0.25mm
對比度范圍:0.0014至0.924 (75kV、1.5mm銅濾片條件下)
隨著技術的發(fā)展,直接數(shù)字化成像系統(tǒng)(DR)在臨床已經得到很大的普及,相比較屏片系統(tǒng),一臺調試較好的DR設備具有較高的曝光寬容度和檢測量子效率(DQE),而且通過改善探測器的DQE可以達到提高圖像質量和降低病人劑量的雙贏。DR設備通常具有受檢者劑量計算功能,但其圖像質量情況卻很難定量和定性地評價,TO 16模體是為評價DR設備閾值對比度細節(jié)探測能力(TCDD)而設計的模體,進而反應該系統(tǒng)的信噪比和低對比度分辨力,醫(yī)院技師和質量控制人員定期對TCDD進行檢測,結合劑量情況,可對DR設備整體性能作出綜合評價。
醫(yī)院技師和質控人員定期用TO 16模體測試數(shù)字成像系統(tǒng)的TCDD,可以即定量又定性的分析評價低對比度分辨力,再結合數(shù)字成像系統(tǒng)本身提供的受檢者的劑量情況,可以綜合評價成像系統(tǒng)的性能,以保證系統(tǒng)始終處于較好的工作狀態(tài)。
L醫(yī)院技師和質控人員定期用 Leeds TO16 模體測試數(shù)字成像系統(tǒng)的TCDD, 可以即定量又定性的分析評價低對比度分辨力, 再結合數(shù)字成像系統(tǒng)本身提供 的受檢者劑量情況, 可以綜合評價成像系統(tǒng)的性能,以保證系統(tǒng)始終處于較好的工作狀態(tài)。
Leeds To20模體與Leeds TO16模體相似,兩種檢測器件(模體)均為一個直徑250mm和厚度10mm的圓形板,板中有12組不同細節(jié)尺寸排列,每個有12個直徑相同的細節(jié),12組的細節(jié)直徑尺寸從0.25mm到11mm的變化范圍,共有144個細節(jié)得到從0.0014到0.924(在75kV和1.5mm銅濾過條件下)12組不同對比度范圍。
兩種檢測器件均可以提供60、65、70和80kV在1.5mm銅濾過條件下獲取的影像12組不同對比度范圍值。其終測量結果可顯示一個閾值探測指數(shù)曲線圖。
TO系列對比度細節(jié)模體專為圖像質量的快速定量評估而設計。評估結果可以繪制在閾值探測指標曲線上。
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